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TQSB系列智能型回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)貨 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。
JD-200A型接觸(回路)電阻測(cè)試儀廠家 在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí),由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響,測(cè)量的電阻值偏大若干倍,掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。
JYL(100A)回路電阻測(cè)試儀價(jià)格 是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻測(cè)量的專(zhuān)用儀器,測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB763推薦的100A直流,可在 100A,200A,300A,400A,500A或600A電流的情況下直接測(cè)得回路電阻或者接觸電阻
100A/200A帶打印回路電阻測(cè)試儀說(shuō)明書(shū) 由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)?;蚨ㄆ趯?duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
上海HLY-III開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。
高性能智能化簡(jiǎn)便式回路電阻測(cè)試儀 在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí),由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響,測(cè)量的電阻值偏大若干倍,掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。
勝緒100A開(kāi)關(guān)回路接觸電阻測(cè)量?jī)x 是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻測(cè)量的專(zhuān)用儀器,測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB763推薦的100A直流,可在 100A,200A,300A,400A,500A或600A電流的情況下直接測(cè)得回路電阻或者接觸電阻
智能檢測(cè)儀開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀報(bào)價(jià) 由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
200A接觸回路電阻測(cè)試儀供應(yīng) 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。
多檔位回路電阻測(cè)試儀可咨詢 在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí),由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響,測(cè)量的電阻值偏大若干倍,掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。